Конференция IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2013) проходит from 25 to March 28, 2013 в городе Osaka, Japan. Посмотреть, как проехать в место проведения конференции, можно на сайте конгрессной площадки. Деловая программа IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2013) разбита на секции по дням и размещается на сайте мероприятия с подробным списком докладчиков конференции. Спикеров конференции IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2013) обычно окончательно утверждают за 1-2 месяца до начала конференции.

Ваши деловые контакты на IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2013)

Добавьте конференцию IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2013) в расписание, чтобы не потерять важное событие, где встречаются профессионалы нужной Вам отрасли. Создавайте свое расписание мероприятий.

Планируете самостоятельную поездку на IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2013) ?

Если Вам требуется размещение, мы рекомендуем посмотреть отели и цены в период проведения конференции здесь. Не забудьте проверить место и даты конференции на официальном сайте и в календаре организатора. Событие могут перенести, отменить, объединить с проектом схожей тематики. Expomap не несет ответственности за неточности предоставляемой информации.